Buch, Englisch, 404 Seiten, Previously published in hardcover, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 645 g
Buch, Englisch, 404 Seiten, Previously published in hardcover, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 645 g
Reihe: Springer Series in Materials Science
ISBN: 978-3-642-07778-4
Verlag: Springer
This wide-ranging book summarizes the current knowledge of radiation defects in semiconductors, outlining the shortcomings of present experimental and modelling techniques and giving an outlook on future developments. It also provides information on the application of sensors in nuclear power plants.
Zielgruppe
Research
Autoren/Hrsg.
Fachgebiete
- Naturwissenschaften Chemie Physikalische Chemie Nuklearchemie, Photochemie, Strahlenchemie
- Naturwissenschaften Physik Thermodynamik Festkörperphysik, Kondensierte Materie
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Werkstoffprüfung
- Technische Wissenschaften Elektronik | Nachrichtentechnik Elektronik Halb- und Supraleitertechnologie
- Technische Wissenschaften Technik Allgemein Physik, Chemie für Ingenieure
- Naturwissenschaften Physik Elektromagnetismus Halbleiter- und Supraleiterphysik
Weitere Infos & Material
Radiation Environments and Component Selection Strategy.- Basic Radiation Damage Mechanisms in Semiconductor Materials and Devices.- Displacement Damage in Group IV Semiconductor Materials.- Radiation Damage in GaAs.- Space Radiation Aspects of Silicon Bipolar Technologies.- Radiation Damage in Silicon MOS Devices.- GaAs Based Field Effect Transistors for Radiation-Hard Applications.- Opto-Electronic Components for Space.- Advanced Semiconductor Materials and Devices - Outlook.
