Shin / Tsui / Reis | VLSI-SoC: Design for Reliability, Security, and Low Power | Buch | 978-3-319-83440-5 | sack.de

Buch, Englisch, Band 483, 223 Seiten, Previously published in hardcover, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 3693 g

Reihe: IFIP Advances in Information and Communication Technology

Shin / Tsui / Reis

VLSI-SoC: Design for Reliability, Security, and Low Power

23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015, Daejeon, Korea, October 5-7, 2015, Revised Selected Papers
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2016
ISBN: 978-3-319-83440-5
Verlag: Springer International Publishing

23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015, Daejeon, Korea, October 5-7, 2015, Revised Selected Papers

Buch, Englisch, Band 483, 223 Seiten, Previously published in hardcover, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 3693 g

Reihe: IFIP Advances in Information and Communication Technology

ISBN: 978-3-319-83440-5
Verlag: Springer International Publishing

This book contains extended and revised versions of the best papers presented at the 23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015, held in Daejeon, Korea, in October 2015. The 10 papers included in the book were carefully reviewed and selected from the 44 full papers presented at the conference. The papers cover a wide range of topics in VLSI technology and advanced research. They address the current trend toward increasing chip integration and technology process advancements bringing about new challenges both at the physical and system-design levels, as well as in the test of these systems.

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Zielgruppe

Research

Autoren/Hrsg.

Shin, Youngsoo
Tsui, Chi Ying
Reis, Ricardo
Kim, Jae-Joon
Choi, Kiyoung

Fachgebiete

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