Shaw / Starman / Prorok | MEMS and Nanotechnology, Volume 6 | Buch | 978-1-4614-4435-0 | sack.de

Buch, Englisch, 156 Seiten, Format (B × H): 215 mm x 285 mm, Gewicht: 670 g

Reihe: Conference Proceedings of the Society for Experimental Mechanics Series

Shaw / Starman / Prorok

MEMS and Nanotechnology, Volume 6

Proceedings of the 2012 Annual Conference on Experimental and Applied Mechanics

Buch, Englisch, 156 Seiten, Format (B × H): 215 mm x 285 mm, Gewicht: 670 g

Reihe: Conference Proceedings of the Society for Experimental Mechanics Series

ISBN: 978-1-4614-4435-0
Verlag: Springer


MEMS and Nanotechnology, Volume 6: Proceedings of the 2012 Annual Conference on Experimental and Applied Mechanics represents one of seven volumes of technical papers presented at the Society for Experimental Mechanics SEM 12th International Congress & Exposition on Experimental and Applied Mechanics, held at Costa Mesa, California, June 11-14, 2012. The full set of proceedings also includes volumes on Dynamic Behavior of Materials, Challenges in Mechanics of Time-Dependent Materials and Processes in Conventional and Multifunctional Materials, Imaging Methods for Novel Materials and Challenging Applications, Experimental and Applied Mechanics, Mechanics of Biological Systems and Materials and, Composite Materials and Joining Technologies for Composites.
Shaw / Starman / Prorok MEMS and Nanotechnology, Volume 6 jetzt bestellen!

Zielgruppe


Research

Weitere Infos & Material


From the Contents: Silicon Carbide High Temperature MEMS Capacitive Strain Sensor.- Characterizing External Resistive, Inductive and Capacitive Loads for Micro-switches.- KEYNOTE: Principles Involved in Interpreting Single-Molecule Force Measurement of Biomolecules.- KEYNOTE: Measurement of the Gold-Gold Bond Rupture Force at 4 K in a Single-atom Chain Using Photon-momentum-based Force Calibration.- A Precision Force Microscope for Biophysics.- DNA Molecular Recognition Using AFM Nanometrology.- Hydrodynamic Force Compensation for Single-molecule Mechanical Testing Using Colloidal Probe Atomic Force Microscopy.- New Insight into Pile-Up in Thin Film Indentation.


Ihre Fragen, Wünsche oder Anmerkungen
Vorname*
Nachname*
Ihre E-Mail-Adresse*
Kundennr.
Ihre Nachricht*
Lediglich mit * gekennzeichnete Felder sind Pflichtfelder.
Wenn Sie die im Kontaktformular eingegebenen Daten durch Klick auf den nachfolgenden Button übersenden, erklären Sie sich damit einverstanden, dass wir Ihr Angaben für die Beantwortung Ihrer Anfrage verwenden. Selbstverständlich werden Ihre Daten vertraulich behandelt und nicht an Dritte weitergegeben. Sie können der Verwendung Ihrer Daten jederzeit widersprechen. Das Datenhandling bei Sack Fachmedien erklären wir Ihnen in unserer Datenschutzerklärung.