Buch, Deutsch, Band 173, 165 Seiten, Format (B × H): 170 mm x 244 mm, Gewicht: 322 g
Reihe: Informatik-Fachberichte
Buch, Deutsch, Band 173, 165 Seiten, Format (B × H): 170 mm x 244 mm, Gewicht: 322 g
Reihe: Informatik-Fachberichte
ISBN: 978-3-540-50051-3
Verlag: Springer Berlin Heidelberg
Das Buch behandelt die beiden wichtigsten Aufgabenstellungen im Rahmen des wirtschaftlich und wissenschaftlich äußerst bedeutenden Gebietes der Testvorbereitung: die automatische Testmustergenerierung und die Fehlersimulation. Alle im Buch beschriebenen Methoden und Verfahren zielen zum einen auf die Minimierung des dazu erforderlichen Rechenzeitaufwandes und zum anderen auf die Bewältigung möglichst großer Schaltungskomplexitäten. Besonderer Wert wurde auf eine präzise, formal konsistente und illustrative Beschreibung und auf eine möglichst vollständige Aufbereitung der einschlägigen Literatur und somit des Standes der Technik gelegt. Das Buch enthält eine Fülle neuer Methoden, die eine wesentliche Beschleunigung von Testmustergenerierungs- und Fehlersimulationsverfahren ermöglichen, und dokumentiert den mit diesen Methoden erzielten Fortschritt anhand einer Reihe von vergleichenden Untersuchungen. Außerdem wird mit SOCRATES das derzeit leistungsfähigste der aus der Literatur bekannten Testmustergenerierungssysteme detailliert vorgestellt. Neben der Hilfestellung bei Implementierungsaufgaben gibt das Buch eine detaillierte Darstellung der Problematik des Testens integrierter Schaltungen und speziell der Prinzipien der automatischen Testmustergenerierung und der schnellen Fehlersimulation. Darüber hinaus kann es als Richtschnur für Spezialvorlesungen nach dem Vordiplom (Elektrotechnik und Informatik) dienen sowie als Ansatz- und Ausgangspunkt für Forschungsaktivitäten auf verwandten Forschungsgebieten.
Zielgruppe
Research
Autoren/Hrsg.
Weitere Infos & Material
1. Einleitung.- 1.1. Allgemeine Aufgaben der Testvorbereitung.- 1.2. Fehlermodelle.- 1.3. Spezielle Aufgabenstellungen der Testvorbereitung.- 1.4. Testfreundliche Entwurfsmethoden.- 1.5. Stand der Technik.- 1.6. Ziele der Arbeit.- 2. Struktur kombinatorischer Schaltungen.- 2.1. Schaltung und Strukturgraph.- 2.2. Zerlegung in fanoutfreie Zonen.- 2.3. Spezielle Strukturmerkmale kombinatorischer Schaltungen.- 3. Schnelle Fehlersimulation in kombinatorischen Schaltungen.- 3.1. Grundlagen der Fehlersimulation.- 3.2. Methoden zur Beschleunigung der Fehlersimulation.- 3.3. Mittlerer Rechenzeitaufwand.- 3.4. Experimentelle Ergebnisse und vergleichende Untersuchungen.- 4. Automatische Testmustergenerierung in kombinatorischen Schaltungen.- 4.1. Deterministische Testmustergenerierung als Suchproblem mit finitem Suchraum.- 4.2. Grundlagen und Definitionen.- 4.3. Der deterministische Testmustergenerierungsalgorithmus.- 4.4. Das automatische Testmustergenerierungssystem SOCRATES.- 4.5. Experimentelle Ergebnisse und vergleichende Untersuchungen.- 5. Zusammenfassung und Ausblick.- Vereinbarungen, Formelzeichen und Stichworte.- Anhang: Gharakteristika der Benchmark-Schaltungen.
