Rotondo | Advances in Gain-Scheduling and Fault Tolerant Control Techniques | Buch | 978-3-319-87425-8 | sack.de

Buch, Englisch, 255 Seiten, Previously published in hardcover, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 429 g

Reihe: Springer Theses

Rotondo

Advances in Gain-Scheduling and Fault Tolerant Control Techniques


Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2018
ISBN: 978-3-319-87425-8
Verlag: Springer International Publishing

Buch, Englisch, 255 Seiten, Previously published in hardcover, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 429 g

Reihe: Springer Theses

ISBN: 978-3-319-87425-8
Verlag: Springer International Publishing


This thesis reports on novel methods for gain-scheduling and fault tolerant control (FTC). It begins by analyzing the connection between the linear parameter varying (LPV) and Takagi-Sugeno (TS) paradigms. This is then followed by a detailed description of the design of robust and shifting state-feedback controllers for these systems. Furthermore, it presents two approaches to fault-tolerant control: the first is based on a robust polytopic controller design, while the second involves a reconfiguration of the reference model and the addition of virtual actuators into the loop. Inaddition the thesis offers a thorough review of the state-of-the art in gain scheduling and fault-tolerant control, with a special emphasis on LPV and TS systems.

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Zielgruppe


Research


Autoren/Hrsg.


Weitere Infos & Material


Introduction.-  Part.- Advances in gain-scheduling techniques.- Background on gain-scheduling.-  Automated generation and comparison of Takagi-Sugeno and polytopic quasi-LPV models.- Robust state-feedback control of uncertain LPV systems.-  Shifting state-feedback control of LPV systems.- part 2.- Background on fault tolerant control.-  Fault tolerant control of LPV systems using robust state-feedback control.-  Fault tolerant control of LPV systems using recon?gured reference model and virtual actuators.- Fault tolerant control of unstable LPV systems subject to actuator saturations and fault isolation delay.- Conclusions and future work.



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