Reithmeier / Peng | 1st Sino-German Workshop on Intelligent Sensing and Metrology | Buch | 978-3-95900-672-9 | sack.de

Buch, Englisch, 96 Seiten, Format (B × H): 140 mm x 210 mm, Gewicht: 198 g

Reihe: Berichte aus dem imr

Reithmeier / Peng

1st Sino-German Workshop on Intelligent Sensing and Metrology

Proceedings, 26-27 July, Hannover, Qingdao, online
Erstausgabe
ISBN: 978-3-95900-672-9
Verlag: TEWISS

Proceedings, 26-27 July, Hannover, Qingdao, online

Buch, Englisch, 96 Seiten, Format (B × H): 140 mm x 210 mm, Gewicht: 198 g

Reihe: Berichte aus dem imr

ISBN: 978-3-95900-672-9
Verlag: TEWISS


Contents:
High-Dimensional Computational Imaging Based on Structured Illumination

GPU-Based Raytracing Simulation for the Identification of Low-Reflection Measurement Poses

Fringe Projection Profilometry: Expansion in Algorithm and Technique

Inspection Window Measurement System

A New Method for Multi-Scale Fringe-Projection 3D Scanner Evaluation and for Modeling Surface Normal Dependent
Influencing Factors of Local Phase Measurement Uncertainty

Non-Line-of-Sight-Imaging

Phase Error Compensation Using Deep Learning

Measurement Data Registration: Comparision of Classical and ML Methods

Reithmeier / Peng 1st Sino-German Workshop on Intelligent Sensing and Metrology jetzt bestellen!


Ihre Fragen, Wünsche oder Anmerkungen
Vorname*
Nachname*
Ihre E-Mail-Adresse*
Kundennr.
Ihre Nachricht*
Lediglich mit * gekennzeichnete Felder sind Pflichtfelder.
Wenn Sie die im Kontaktformular eingegebenen Daten durch Klick auf den nachfolgenden Button übersenden, erklären Sie sich damit einverstanden, dass wir Ihr Angaben für die Beantwortung Ihrer Anfrage verwenden. Selbstverständlich werden Ihre Daten vertraulich behandelt und nicht an Dritte weitergegeben. Sie können der Verwendung Ihrer Daten jederzeit widersprechen. Das Datenhandling bei Sack Fachmedien erklären wir Ihnen in unserer Datenschutzerklärung.