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E-Book

E-Book, Englisch, Band 36, 545 Seiten, eBook

Reihe: Springer Series in Optical Sciences

Reimer Transmission Electron Microscopy

Physics of Image Formation and Microanalysis

E-Book, Englisch, Band 36, 545 Seiten, eBook

Reihe: Springer Series in Optical Sciences

ISBN: 978-3-662-21556-2
Verlag: Springer
Format: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark



"Transmission Electron Microscopy" presents the theory of
image and contrastformation, and the analytical modes in
transmission electron microscopy. Theprinciples of particle
and wave optics of electrons are described.
Electron-specimen interactions are discussed for evaluating
the theory of scattering and phase contrast. Also analysed
are the kinetical and dynamical theories of electron
diffraction and their applications for crystal-structure
determination and imaging of lattices and their defects.
X-ray microanalysis and electron energy-loss spectroscopy
are treated as analytical methods. The third edition
includes a brief discussionof Schottky emission guns, some
clarification of minor details, and references to the recent
literature.
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Zielgruppe


Research

Weitere Infos & Material


1. Introduction.- 2. Particle Optics of Electrons.- 3. Wave Optics of Electrons.- 4. Elements of a Transmission Electron Microscope.- 5. Electron-Specimen Interactions.- 6. Scattering and Phase Contrast for Amorphous Specimens.- 7. Kinematical and Dynamical Theory of Electron Diffraction.- 8. Diffraction Contrast and Crystal-Structure Imaging.- 9. Analytical Electron Microscopy.- 10. Specimen Damage by Electron Irradiation.- References.


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