Messtechnik

Systemtheorie für Ingenieure und Informatiker
10. Auflage 2015
ISBN: 978-3-662-44820-5
Verlag: Springer

Buch, Deutsch, 440 Seiten, Book w. online files/update, Format (B × H): 169 mm x 244 mm, Gewicht: 787 g

Dieses Lehrbuch behandelt die systemtheoretischen Grundlagen der Messtechnik. Dabei werden die allen Messsystemen gemeinsamen Verfahren in den Vordergrund gestellt. Der Inhalt des Buches umfasst- die mathematische Beschreibung des physikalischen Verhaltens von Messsystemen,- die Verbesserung der statischen und dynamischen Eigenschaften von Messsystemen,- die Messung von stochastischen Größen und Signalen,- die rechnergestützte Messdatenerfassung und -verarbeitung sowie- die Frequenz- und Drehzahlmessung.Die 10. Auflage wurde neu bearbeitet und inhaltlich ergänzt. Dank einer zweiten Druckfarbe konnten zahlreiche Abbildungen didaktisch verbessert werden. Das Buch ist in sich geschlossen und ist so aufgebaut, dass sich der Leser den Stoff selbst aneignen kann. Zusätzlich werden Matlab-gestützte Übungen angeboten, die den Bezug zur Praxis verdeutlichen.

Zielgruppe

Graduate

Autoren/Hrsg.

Puente León, Fernando

Fachgebiete

• Technische Wissenschaften Technik Allgemein Mess- und Automatisierungstechnik

Inhaltsverzeichnis

Messsysteme und Messfehler.- Kurvenanpassung.- Stationäres Verhalten von Messsystemen.- Zufällige Messfehler.- Dynamisches Verhalten von Messsystemen.- Messung stochastischer Signale.- Erfassung analoger Signale.- Frequenz- und Drehzahlmessung.

Über Autor(innen)

Prof. Dr.-Ing. Fernando Puente León lehrt und forscht am Karlsruher Institut für Technologie (KIT) und leitet dort das Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT). Nach Studium und Promotion war er in der Industrie im Bereich der Informations- und Kommunikationstechnik tätig. Von 2003 bis 2008 hatte er eine Professur für Verteilte Messsysteme an der Technischen Universität München inne. Seine Forschungsschwerpunkte liegen in der Bild- und Signalverarbeitung, der Mess- und Automatisierungstechnik, der Informationsfusion, der Mustererkennung sowie der Analyse verteilter Systeme.