Prorok / Starman MEMS and Nanotechnology, Volume 5

Proceedings of the 2015 Annual Conference on Experimental and Applied Mechanics
1. Auflage 2016
ISBN: 978-3-319-22458-9
Verlag: Springer International Publishing
Format: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

Proceedings of the 2015 Annual Conference on Experimental and Applied Mechanics

E-Book, Englisch, 113 Seiten, eBook

Reihe: Conference Proceedings of the Society for Experimental Mechanics Series

ISBN: 978-3-319-22458-9
Verlag: Springer International Publishing
Format: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark



The 16International Symposium on MEMS and Nanotechnology, Volume 5 of the Proceedings of the 2015SEM Annual Conference& Exposition on Experimental and Applied Mechanics, the fifth volume of nine from the Conference, brings together contributions to this important area of research and engineering.  The collection presents early findings and case studies on a wide range of areas, including:

Microscale and Microstructural Effects on Mechanical Behavior

Dynamic Micro/Nanomechanics

In-situ Techniques

Mechanics of Graphene

Indentation and Small Scale Testing

MEMS

Prorok / Starman MEMS and Nanotechnology, Volume 5 jetzt bestellen!

Zielgruppe


Research

Weitere Infos & Material


Oxide Driven Strength Degradation of (1 1 1) Silicon Surfaces.- Keynote: In situ TEM Nanomechanical Testing.- Poisson's Ratio as a Damage Index Sensed By Dual-embedded Fiber Bragg Grating Sensor.- In Situ High-Rate Mechanical Testing in the Dynamic Transmission Electron Microscope.- In-situ TEM Observation of Twinning, Detwinning and Retwinning in Quartz.- Nano to Macro: Mechanical Evaluation of Macroscopically Long Individual Nanofibers.- Evaluating Pile-Up and Sink-In During Nanoindentation of Thin Films.- Tapered Cantilevered Bimorphs for Piezoelectric Energy Harvesting - Characterization With Impedance Spectroscopy.- Time and Temperature Dependence of Stress Relaxation in Al and Al Alloy Thin Films Application for MEMS.- Detecting Interconnect Damage in Shock Using Acoustic Emission Detection.- Application of Nanoindentation and Microdiffraction to Study Aging Effects in Lead Free Solder Interconnects.- High Rate Experimental Test Method for Harsh Environment Stretchable Electronics.- Measurement of the Electromechanical Response of Capacitors in Dynamic Loading Conditions.



Ihre Fragen, Wünsche oder Anmerkungen
Vorname*
Nachname*
Ihre E-Mail-Adresse*
Kundennr.
Ihre Nachricht*
Lediglich mit * gekennzeichnete Felder sind Pflichtfelder.
Wenn Sie die im Kontaktformular eingegebenen Daten durch Klick auf den nachfolgenden Button übersenden, erklären Sie sich damit einverstanden, dass wir Ihr Angaben für die Beantwortung Ihrer Anfrage verwenden. Selbstverständlich werden Ihre Daten vertraulich behandelt und nicht an Dritte weitergegeben. Sie können der Verwendung Ihrer Daten jederzeit widersprechen. Das Datenhandling bei Sack Fachmedien erklären wir Ihnen in unserer Datenschutzerklärung.