Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie | E-Book | sack.de
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E-Book, Deutsch, 320 Seiten, eBook

Reihe: Angewandte Physik

Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie


1997
ISBN: 978-3-663-12296-8
Verlag: Vieweg & Teubner
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

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Reihe: Angewandte Physik

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Zielgruppe

Professional/practitioner

Autoren/Hrsg.

Weitere Infos & Material

1 Grundlagen.- 2 Dynamische Theorie der Beugungskontraste.- 3 Hochauflösende Elektronenmikroskopie.- 4 Analytische Elektronenmikroskopie.- A Anhang.- A1 Fourier-Optik.- A1.1 Beugung am Spalt.- A1.2 Beugung an einem Gitter aus N Spalten.- A1.3 Fourier-Analyse.- A1.4 Fourier-Transformation.- A1.5 Die Diracsche Deltafunktion.- A1.6 Beugung und Abbildung.- A2 Vereinfachende Abschätzung des Punktauflösungsvermögens eines Elektronenmikroskops.- A3 Formale Behandlung der inkohärenten Abbildung im ringförmigen Dunkelfed (HAADF) des Raster-Transmissions-Elektronenmikroskops.- A4 Konstanz der Helligkeit ? im Strahlengang.- Abbildungen.

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