Ohring | Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices | Buch | 978-1-4933-0173-7 | sack.de

Buch, Englisch, 692 Seiten

Ohring

Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices


Erscheinungsjahr 1998
ISBN: 978-1-4933-0173-7
Verlag: Elsevier Science

Buch, Englisch, 692 Seiten

ISBN: 978-1-4933-0173-7
Verlag: Elsevier Science

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Autoren/Hrsg.

Ohring, Milton
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