Ohring | Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices | E-Book | sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 692 Seiten

Ohring Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices


Erscheinungsjahr 1998
ISBN: 978-0-08-051607-3
Verlag: Elsevier Science & Techn.
Format: EPUB
 Kopierschutz: 6 - ePub Watermark

E-Book, Englisch, 692 Seiten

ISBN: 978-0-08-051607-3
Verlag: Elsevier Science & Techn.
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Autoren/Hrsg.

Ohring, Milton
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