Oehrlein / Maex / Joo | Materials, Technology and Reliability for Advanced Interconnects and Low-K Dielectrics | Buch | 978-1-107-41315-3 | www2.sack.de

Buch, Englisch, 614 Seiten, Format (B × H): 152 mm x 229 mm, Gewicht: 876 g

Oehrlein / Maex / Joo

Materials, Technology and Reliability for Advanced Interconnects and Low-K Dielectrics

Volume 612
Erscheinungsjahr 2013
ISBN: 978-1-107-41315-3
Verlag: Cambridge University Press

Volume 612

Buch, Englisch, 614 Seiten, Format (B × H): 152 mm x 229 mm, Gewicht: 876 g

ISBN: 978-1-107-41315-3
Verlag: Cambridge University Press

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Autoren/Hrsg.

Oehrlein, G. S.
Maex, K.
Joo, Y. -C
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