Mendis | Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy | E-Book | sack.de
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Reihe: RMS - Royal Microscopical Society

Mendis Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy


1. Auflage 2018
ISBN: 978-1-118-69655-2
Verlag: John Wiley & Sons
Format: PDF
 Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)

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Autoren/Hrsg.

Mendis, Budhika G.
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