Malarvel / Nayak / Pattnaik | Machine Vision Inspection Systems, Machine Learning-Based Approaches | E-Book | sack.de
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Malarvel / Nayak / Pattnaik Machine Vision Inspection Systems, Machine Learning-Based Approaches


1., Volume 2
ISBN: 978-1-119-78610-8
Verlag: John Wiley & Sons
Format: EPUB
 Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)

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Autoren/Hrsg.

Malarvel, Muthukumaran
Nayak, Soumya Ranjan
Pattnaik, Prasant Kumar
Panda, Surya Narayan
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