Löw / Scheel / Wittke | Stress evaluation and reliability of electrically conductive adhesive interconnections | Buch | 978-3-934142-59-6 | sack.de

Buch, Englisch, Band 10, 175 Seiten, PB

Reihe: Aufbau- und Verbindungstechnik in der Elektronik - Aktuelle Berichte

Löw / Scheel / Wittke

Stress evaluation and reliability of electrically conductive adhesive interconnections


1. Auflage 2010
ISBN: 978-3-934142-59-6
Verlag: Detert, M

Buch, Englisch, Band 10, 175 Seiten, PB

Reihe: Aufbau- und Verbindungstechnik in der Elektronik - Aktuelle Berichte

ISBN: 978-3-934142-59-6
Verlag: Detert, M

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Autoren/Hrsg.

Löw, Richard C
Scheel, Wolfgang
Wittke, Klaus
Nowottnick, Mathias
Wilde, Jürgen
Pape, Uwe
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