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E-Book, Englisch, 261 Seiten, E-Book

Lifshin X-ray Characterization of Materials


1. Auflage 2008
ISBN: 978-3-527-61375-5
Verlag: Wiley-VCH
Format: PDF
 Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)

E-Book, Englisch, 261 Seiten, E-Book

ISBN: 978-3-527-61375-5
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Die Charakterisierung der verwendeten Materialien ist für die systematische Entwicklung neuer Werkstoffe essentiell. Die röntgenografische Analyse spielt dabei eine große Rolle für die Aufklärung der elementaren Zusammensetzung und Kristall- bzw. Kornstrukturen aller Werkstoffarten.
Dieses Handbuch gibt einen verständlichen Überblick über alle Grundlagen und Anwendungen moderner röntgenografischer Analytik in den Materialwissenschaften. Besonderes Gewicht wird auf die Diskussion moderner Entwicklungen bei diesen Techniken gelegt.
Die dargebotene Informationsfülle macht es zu einem Standardwerk für jeden in der Materialentwicklung und -forschung tätigen Ingenieur und Wissenschaftler.
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Autoren/Hrsg.

Lifshin, Eric

Weitere Infos & Material

X-Ray Diffraction (Snyder)
Application of Synchrotron X-Radiation to Problems in Materials Science (Gerson)
X-Ray Fluorescence Analysis (Jenkins)
Small-Angle Scattering of X-Rays and Neutrons (Williams)

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