Buch, Englisch, Band 127, 383 Seiten, Format (B × H): 160 mm x 241 mm, Gewicht: 1620 g
Defect Studies
Buch, Englisch, Band 127, 383 Seiten, Format (B × H): 160 mm x 241 mm, Gewicht: 1620 g
Reihe: Springer Series in Solid-State Sciences
ISBN: 978-3-540-64371-5
Verlag: Springer Berlin Heidelberg
Zielgruppe
Research
Autoren/Hrsg.
Fachgebiete
- Naturwissenschaften Physik Thermodynamik Festkörperphysik, Kondensierte Materie
- Naturwissenschaften Physik Elektromagnetismus Halbleiter- und Supraleiterphysik
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Materialwissenschaft: Elektronik, Optik
- Technische Wissenschaften Technik Allgemein Physik, Chemie für Ingenieure
- Technische Wissenschaften Elektronik | Nachrichtentechnik Elektronik Halb- und Supraleitertechnologie
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Werkstoffprüfung
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Werkstoffkunde, Materialwissenschaft: Forschungsmethoden
Weitere Infos & Material
1 Introduction.- 2 Experimental Techniques.- 3 Basics of Positron Annihilation in Semiconductors.- 4 Defect Characterization in Elemental Semiconductors.- 5 Defect Characterization in III–V Compounds.- 6 Defect Characterization in II–VI Compounds.- 7 Defect Characterization in Other Compounds.- 8 Applications of Positron Annihilation in Defect Engineering.- 9 Comparison of Positron Annihilation with Other Defect-Sensitive Techniques.- A1 Semiconductor Data.- A2 Trapping Model Equations.- References.