Lee / Wu / Ni | Optical Admittance Loci Monitoring for Thin Film Deposition | Buch | 978-3-659-00198-7 | sack.de

Buch, Englisch, 148 Seiten, Paperback, Format (B × H): 152 mm x 222 mm, Gewicht: 235 g

Lee / Wu / Ni

Optical Admittance Loci Monitoring for Thin Film Deposition


Optical Monitoring for Thin Film Coatings

Buch, Englisch, 148 Seiten, Paperback, Format (B × H): 152 mm x 222 mm, Gewicht: 235 g

ISBN: 978-3-659-00198-7
Verlag: LAP Lambert Academic Publishing

Lee / Wu / Ni Optical Admittance Loci Monitoring for Thin Film Deposition jetzt bestellen!

Autoren/Hrsg.

Lee, Cheng-Chung
Wu, Kai
Ni, Tzu-Ling
Ihre Fragen, Wünsche oder Anmerkungen
Vorname*
Nachname*
Ihre E-Mail-Adresse*
Kundennr.
Ihre Nachricht*
Lediglich mit * gekennzeichnete Felder sind Pflichtfelder.
Wenn Sie die im Kontaktformular eingegebenen Daten durch Klick auf den nachfolgenden Button übersenden, erklären Sie sich damit einverstanden, dass wir Ihr Angaben für die Beantwortung Ihrer Anfrage verwenden. Selbstverständlich werden Ihre Daten vertraulich behandelt und nicht an Dritte weitergegeben. Sie können der Verwendung Ihrer Daten jederzeit widersprechen. Das Datenhandling bei Sack Fachmedien erklären wir Ihnen in unserer Datenschutzerklärung.