Lee / Bieler / Kim Fundamentals of Lead-Free Solder Interconnect Technology
1. Auflage 2014
ISBN: 978-1-4614-9266-5
Verlag: Springer US
Format: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
From Microstructures to Reliability
E-Book, Englisch, 253 Seiten, eBook
ISBN: 978-1-4614-9266-5
Verlag: Springer US
Format: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
Zielgruppe
Research
Autoren/Hrsg.
Weitere Infos & Material
Introduction.- Interconnection : The Joint.- Phase Equilibria and Microstructure of Sn-Ag-Cu Alloys.- Microstructure Development; Solidification and Isothermal Aging.- Thermal Cycling Performance.- Mechanical Stability and Performance.- Chemical and Environment Attack.- Challenges in Future Generation Interconnects: Microstructure Again.