Leblebici | Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits | E-Book | www2.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, Band 227, 212 Seiten

Reihe: The Springer International Series in Engineering and Computer Science

Leblebici Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits


Erscheinungsjahr 2012
ISBN: 978-1-4615-3250-7
Verlag: Springer US
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

E-Book, Englisch, Band 227, 212 Seiten

Reihe: The Springer International Series in Engineering and Computer Science

ISBN: 978-1-4615-3250-7
Verlag: Springer US
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Autoren/Hrsg.

Leblebici, Yusuf
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