Buch, Englisch, 383 Seiten, Previously published in hardcover, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 604 g
Defect Studies
Buch, Englisch, 383 Seiten, Previously published in hardcover, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 604 g
Reihe: Springer Series in Solid-State Sciences
ISBN: 978-3-642-08403-4
Verlag: Springer
This comprehensive book reports on recent investigations of lattice imperfections in semiconductors by means of positron annihilation. It reviews positron techniques, and describes the application of these techniques to various kinds of defects, such as vacancies, impurity vacancy complexes and dislocations.
Zielgruppe
Research
Autoren/Hrsg.
Fachgebiete
- Naturwissenschaften Physik Elektromagnetismus Halbleiter- und Supraleiterphysik
- Naturwissenschaften Physik Thermodynamik Festkörperphysik, Kondensierte Materie
- Technische Wissenschaften Elektronik | Nachrichtentechnik Elektronik Halb- und Supraleitertechnologie
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Werkstoffprüfung
- Technische Wissenschaften Technik Allgemein Physik, Chemie für Ingenieure
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Werkstoffkunde, Materialwissenschaft: Forschungsmethoden
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Materialwissenschaft: Elektronik, Optik
Weitere Infos & Material
1 Introduction.- 2 Experimental Techniques.- 3 Basics of Positron Annihilation in Semiconductors.- 4 Defect Characterization in Elemental Semiconductors.- 5 Defect Characterization in III–V Compounds.- 6 Defect Characterization in II–VI Compounds.- 7 Defect Characterization in Other Compounds.- 8 Applications of Positron Annihilation in Defect Engineering.- 9 Comparison of Positron Annihilation with Other Defect-Sensitive Techniques.- A1 Semiconductor Data.- A2 Trapping Model Equations.- References.
