Jain | Advancements in AI and IoT for Chip Manufacturing and Defect Prevention | E-Book | sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 152 Seiten

Jain Advancements in AI and IoT for Chip Manufacturing and Defect Prevention


Erscheinungsjahr 2024
ISBN: 978-87-7004-683-1
Verlag: Taylor & Francis eBooks
Format: PDF
 Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)

E-Book, Englisch, 152 Seiten

ISBN: 978-87-7004-683-1
Verlag: Taylor & Francis eBooks
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Autoren/Hrsg.

Jain, Rupal
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