Illian / Penttinen / Stoyan | Statistical Analysis and Modelling of Spatial Point Patterns | E-Book | www2.sack.de
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Reihe: Statistics in Practice

Illian / Penttinen / Stoyan Statistical Analysis and Modelling of Spatial Point Patterns


1. Auflage 2008
ISBN: 978-0-470-72515-3
Verlag: John Wiley & Sons
Format: PDF
 Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)

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Autoren/Hrsg.

Illian, Janine
Penttinen, Antti
Stoyan, Helga
Stoyan, Dietrich
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