Causes, Effects and Mitigation Techniques
Buch, Englisch, 228 Seiten, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 376 g
ISBN: 978-3-030-23783-7
Verlag: Springer International Publishing
This book provides comprehensive coverage of the latest research into integrated circuits’ ageing, explaining the causes of this phenomenon, describing its effects on electronic systems, and providing mitigation techniques to build ageing-resilient circuits.
Zielgruppe
Research
Autoren/Hrsg.
Fachgebiete
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Festigkeitslehre, Belastbarkeit
- Technische Wissenschaften Elektronik | Nachrichtentechnik Elektronik Elektronische Baugruppen, Elektronische Materialien
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Materialwissenschaft: Elektronik, Optik
- Technische Wissenschaften Elektronik | Nachrichtentechnik Elektronik Bauelemente, Schaltkreise
Weitere Infos & Material
Chapter 1. Understanding Ageing Mechanisms.- Chapter 2. The Effects of Ageing on the reliability and performance of Integrated Circuits.- Chapter 3. Ageing Mitigation Techniques for Microprocessors using using Anti- Ageing Software.- Chapter 4. Ageing Mitigation Techniques for SRAM Memories.- Chapter 5. Ageing-aware Logic Synthesis.- Chapter 6. On-Chip Ageing Monitoring and System Adaptation.- Chapter 7. Aging Monitors for SRAM Memory Cells and Sense Amplifiers.- Chapter 8. A Cost-Efficient Aging Sensor based on Multiple Paths Delay Fault Monitoring.