Hahn | Berührungslose Defektanalytik von Halbleitermaterialien | Buch | 978-3-8381-2440-7 | sack.de

Buch, Deutsch, 152 Seiten, Paperback, Format (B × H): 150 mm x 220 mm, Gewicht: 244 g

Hahn

Berührungslose Defektanalytik von Halbleitermaterialien

Modellierung und quantitative Analyse der Mikrowellendetektierten Photoleitfähigkeit
Erscheinungsjahr 2015
ISBN: 978-3-8381-2440-7
Verlag: Südwestdeutscher Verlag für Hochschulschriften AG Co. KG

Modellierung und quantitative Analyse der Mikrowellendetektierten Photoleitfähigkeit

Buch, Deutsch, 152 Seiten, Paperback, Format (B × H): 150 mm x 220 mm, Gewicht: 244 g

ISBN: 978-3-8381-2440-7
Verlag: Südwestdeutscher Verlag für Hochschulschriften AG Co. KG

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Autoren/Hrsg.

Hahn, Torsten
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