Gupta | Semiconductor Memory Testing | Buch | 978-3-639-19440-1 | sack.de

Buch, Englisch, 64 Seiten, Paperback, Format (B × H): 150 mm x 220 mm, Gewicht: 113 g

Gupta

Semiconductor Memory Testing

Fault Models and Test Considerations for High Performance Embedded SRAM's
Erscheinungsjahr 2009
ISBN: 978-3-639-19440-1
Verlag: VDM Verlag Dr. Müller

Fault Models and Test Considerations for High Performance Embedded SRAM's

Buch, Englisch, 64 Seiten, Paperback, Format (B × H): 150 mm x 220 mm, Gewicht: 113 g

ISBN: 978-3-639-19440-1
Verlag: VDM Verlag Dr. Müller

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Autoren/Hrsg.

Gupta, Anuj
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