Fisher | Defects and Diffusion in Semiconductors II | E-Book | sack.de
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E-Book, Englisch, 336 Seiten

Fisher Defects and Diffusion in Semiconductors II


E-Book, Englisch, 336 Seiten

ISBN: 978-3-0357-0689-5
Verlag: Trans Tech Publications
Format: PDF
 Kopierschutz: 0 - No protection

This second volume in the new-format coverage of the latest results in the field covers abstracts from the approximate period of mid-1998 to mid-1999. As always, due to the vagaries of some journal publication dates, abstracts of earlier work may be included in order that the present contents merge seamlessly with those of volumes 162-163; the previous issue in this sub-series.
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Autoren/Hrsg.

Fisher, David
Fisher, David J.

Weitere Infos & Material

IR Studies of Oxygen-Yacancy Related Defects in Irradiated Silicon
Calculation of Cd Diffusion Profiles in GaAs
Theory of Enhanced/Retarded Diffusion of Donor/Acceptor Dopants in Predoped Silicon
Ga Self-Diffusion in GaAs

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