Liebe Besucherinnen und Besucher,
heute ab 15 Uhr feiern wir unser Sommerfest und sind daher nicht erreichbar. Ab morgen sind wir wieder wie gewohnt für Sie da. Wir bitten um Ihr Verständnis – Ihr Team von Sack Fachmedien
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Technische Wissenschaften
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Jain Advancements in AI and IoT for Chip Manufacturing and Defect Prevention
1. Auflage 2024Verlag: River PublishersISBN: 978-87-7004-681-7Medium: Buch114,40 € (inkl. MwSt.)
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