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Technische Wissenschaften
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Shen / Yu / Tan Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
2012Verlag: SpringerISBN: 978-1-4899-8787-7Medium: Buch119,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Shen / Yu / Tan Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
2012Verlag: SpringerISBN: 978-1-4614-0787-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Shi / Tlelo Cuautle / Tan Advanced Symbolic Analysis for VLSI Systems
Methods and Applications2014Verlag: SpringerISBN: 978-1-4939-1102-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Shi / Tlelo Cuautle / Tan Advanced Symbolic Analysis for VLSI Systems
Methods and ApplicationsSoftcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2014Verlag: SpringerISBN: 978-1-4939-4795-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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