Liebe Besucherinnen und Besucher,
heute ab 15 Uhr feiern wir unser Sommerfest und sind daher nicht erreichbar. Ab morgen sind wir wieder wie gewohnt für Sie da. Wir bitten um Ihr Verständnis – Ihr Team von Sack Fachmedien
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Technische Wissenschaften
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Liou / Gan / Wong Semiconductor Process Reliability in Practice
Erscheinungsjahr 2012Verlag: McGraw-Hill Education - EuropeISBN: 978-0-07-175427-9Medium: Buch183,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Tan / Hou / Li Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
2011Verlag: SpringerISBN: 978-0-85729-309-1Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Tan / Hou / Li Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
2011Verlag: SpringerISBN: 978-1-4471-2641-6Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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