Ergebnisse filtern
Fachgebiet
Medium
  • 2
Erscheinungsjahr
  • 1
  • 1
Autoren
  • 2
Verlag
  • 1
  • 1
Preis
  • 2
Sprachen
  • 2
Verfügbarkeit
  • 2
Katalog
  • 2

Technische Wissenschaften

2  Treffer  für „Chang, Shih-Lin“
Alle Filter löschen
    Chang | X-Ray Multiple-Wave Diffraction | Buch | Sack Fachmedien

    Chang X-Ray Multiple-Wave Diffraction

    Theory and Application
    2004
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-21196-9
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Chang | X-Ray Multiple-Wave Diffraction | Buch | Sack Fachmedien

    Chang X-Ray Multiple-Wave Diffraction

    Theory and Application
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2004
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-05947-6
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb

Ist Ihr gesuchter Titel nicht Teil der Ergebnisse? Dann nutzen Sie unser Kontaktformular