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Simpson / Sheppard Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis
1998Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-8263-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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da Silva / Waayers / McLaurin The Core Test Wrapper Handbook
Rationale and Application of IEEE Std. 1500(TM)2006Verlag: Springer USISBN: 978-1-4899-8769-3Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
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Kabisatpathy / Barua / Sinha Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits
2005. Auflage 2005Verlag: Springer UsISBN: 978-0-387-25742-6Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Formal Equivalence Checking and Design Debugging
1998Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-8184-6Medium: Buch192,59 € (inkl. MwSt.)
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da Silva / McLaurin / Waayers The Core Test Wrapper Handbook
Rationale and Application of IEEE Std. 1500(tm)2006. Auflage 2006Verlag: Springer UsISBN: 978-0-387-30751-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Maly / Khare From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Simulation and Applications1996Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-9714-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Maston / Villar / Taylor Elements of STIL
Principles and Applications of IEEE Std. 14502003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7637-4Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Tehranipoor Emerging Nanotechnologies
Test, Defect Tolerance, and Reliability2008Verlag: CopernicusISBN: 978-0-387-74746-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Bushnell Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design
1996Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-9673-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Maichen Digital Timing Measurements
From Scopes and Probes to Timing and JitterSoftcover Nachdruck of hardcover 1. Auflage 2006Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-4066-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Maichen Digital Timing Measurements
From Scopes and Probes to Timing and Jitter2006. Auflage 2006Verlag: Springer UsISBN: 978-0-387-31418-1Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Prinetto / Benso Fault Injection Techniques and Tools for Embedded Systems Reliability Evaluation
2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7589-6Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Prinetto / Benso Fault Injection Techniques and Tools for Embedded Systems Reliability Evaluation
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5391-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Larsson Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
2005Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-3207-3Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Tehranipoor Emerging Nanotechnologies
Test, Defect Tolerance, and Reliability1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-4513-6Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Iyengar / Chandra Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
2002. Auflage 2002Verlag: Springer UsISBN: 978-1-4020-7119-5Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Larsson Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2005Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5269-1Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Beenker / Thijssen / Bennetts Testability Concepts for Digital ICs
The Macro Test Approach1995Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-9658-1Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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