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    Bhushan / Kawata / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods V | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Kawata / Fuchs Applied Scanning Probe Methods V

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    Softcover version of original hardcover Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07211-6
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods

    Volumes I - XIII
    2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-88823-9
    Medium: Buch
    534,99 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Tomitori / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods IX | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods IX

    Characterization
    2008
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-74082-7
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Michler | Single Semiconductor Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Michler Single Semiconductor Quantum Dots

    Softcover Nachdruck of hardcover 1. Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09955-7
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Masuhara / Sasaki / Nakanishi | Single Organic Nanoparticles | Buch | Sack Fachmedien

    Masuhara / Sasaki / Nakanishi Single Organic Nanoparticles

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2003
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-62429-2
    Medium: Buch
    53,49 € (inkl. MwSt.)
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    Gölzhäuser / Hlawacek | Helium Ion Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Gölzhäuser / Hlawacek Helium Ion Microscopy

    1. Auflage 2016
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-41988-6
    Medium: Buch
    246,09 € (inkl. MwSt.)
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    Wiesendanger | Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Wiesendanger Scanning Probe Microscopy

    Analytical Methods
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 1998
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-08360-0
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods II | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods II

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    2006
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-26242-8
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods XII | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XII

    Characterization
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09870-3
    Medium: Buch
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    Bhushan / Tomitori / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods VIII | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods VIII

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    2008
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-74079-7
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Hu / Jiang / Chen | Emerging Nanotechnologies in Nanocellulose | Buch | Sack Fachmedien

    Hu / Jiang / Chen Emerging Nanotechnologies in Nanocellulose

    1. Auflage 2023
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-031-14042-6
    Medium: Buch
    181,89 € (inkl. MwSt.)
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    Güçlü / Hawrylak / Potasz | Graphene Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Güçlü / Hawrylak / Potasz Graphene Quantum Dots

    2014
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-662-44610-2
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Kawata / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods VI | Buch | Sack Fachmedien

    Kawata / Bhushan Applied Scanning Probe Methods VI

    Characterization
    2007
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-37318-6
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Kawata / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods VI | Buch | Sack Fachmedien

    Kawata / Bhushan Applied Scanning Probe Methods VI

    Characterization
    Softcover version of original hardcover Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07212-3
    Medium: Buch
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    Shchukin / Bimberg / Ledentsov | Epitaxy of Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Shchukin / Bimberg / Ledentsov Epitaxy of Nanostructures

    2004
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-67817-5
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods III | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods III

    Characterization
    2006
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-26909-0
    Medium: Buch
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    Sidorenko | Fundamentals of Superconducting Nanoelectronics | Buch | Sack Fachmedien

    Sidorenko Fundamentals of Superconducting Nanoelectronics

    2011
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-20157-8
    Medium: Buch
    192,59 € (inkl. MwSt.)
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    Gruverman / Alexe | Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials | Buch | Sack Fachmedien

    Gruverman / Alexe Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials

    Scanning Probe Microscopy Approach
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2004
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-05844-8
    Medium: Buch
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    Morita / Meyer / Wiesendanger | Noncontact Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita / Meyer / Wiesendanger Noncontact Atomic Force Microscopy

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2002
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-62772-9
    Medium: Buch
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    Zhang / Chen | Nanowelded Carbon Nanotubes | Buch | Sack Fachmedien

    Zhang / Chen Nanowelded Carbon Nanotubes

    From Field-Effect Transistors to Solar Microcells
    2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-26020-9
    Medium: Buch
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    Saurov / Bulyarskiy | Doping of Carbon Nanotubes | Buch | Sack Fachmedien

    Saurov / Bulyarskiy Doping of Carbon Nanotubes

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2017
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-85771-8
    Medium: Buch
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    Bimberg | Semiconductor Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Bimberg Semiconductor Nanostructures

    2008
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-77898-1
    Medium: Buch
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    Bhushan / Kawata / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods V | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Kawata / Fuchs Applied Scanning Probe Methods V

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    2007
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-37315-5
    Medium: Buch
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    Voigtländer | Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Voigtländer Atomic Force Microscopy

    2. Auflage 2019
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-030-13656-7
    Medium: Buch
    171,19 € (inkl. MwSt.)
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    Guimarães | Principles of Nanomagnetism | Buch | Sack Fachmedien

    Guimarães Principles of Nanomagnetism

    Softcover Nachdruck of the original 2. Auflage 2017
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-86618-5
    Medium: Buch
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