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Hu / Chen / Jiang Emerging Nanotechnologies in Nanocellulose
1. Auflage 2023Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-031-14045-7Medium: Buch181,89 € (inkl. MwSt.)
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Voigtländer Atomic Force Microscopy
2. Auflage 2019Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-13656-7Medium: Buch171,19 € (inkl. MwSt.)
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Sidorenko Fundamentals of Superconducting Nanoelectronics
2011Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-20157-8Medium: Buch192,59 € (inkl. MwSt.)
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Bimberg Semiconductor Nanostructures
2008Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-77898-1Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Gruverman / Alexe Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials
Scanning Probe Microscopy Approach1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2004Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-05844-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Morita / Meyer / Wiesendanger Noncontact Atomic Force Microscopy
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2002Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-62772-9Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Gölzhäuser / Hlawacek Helium Ion Microscopy
1. Auflage 2016Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-41988-6Medium: Buch246,09 € (inkl. MwSt.)
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Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XII
Characterization1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2009Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-09870-3Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
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Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods
Volumes I - XIII1. Auflage 2011Verlag: SpringerISBN: 978-3-540-88823-9Medium: Buch534,99 € (inkl. MwSt.)
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Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods II
Scanning Probe Microscopy Techniques2006Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-26242-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods IX
Characterization2008Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-74082-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods VIII
Scanning Probe Microscopy Techniques2008Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-74079-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Hu / Chen / Jiang Emerging Nanotechnologies in Nanocellulose
1. Auflage 2023Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-031-14042-6Medium: Buch181,89 € (inkl. MwSt.)
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Masuhara / Sasaki / Nakanishi Single Organic Nanoparticles
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2003Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-62429-2Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
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Landman / Heiz Nanocatalysis
1. Auflage 2007. 2. printing 2007Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-74551-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Wiesendanger Scanning Probe Microscopy
Analytical Methods1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 1998Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-08360-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Michler Single Semiconductor Quantum Dots
Softcover Nachdruck of hardcover 1. Auflage 2009Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-09955-7Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Bhushan / Hosaka / Fuchs Applied Scanning Probe Methods I
2004Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-00527-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Voigtländer Atomic Force Microscopy
2. Auflage 2019Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-13653-6Medium: Buch171,19 € (inkl. MwSt.)
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Bhushan / Hosaka / Fuchs Applied Scanning Probe Methods I
Softcover version of original hardcover Auflage 2004Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-05602-4Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
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Zhang / Chen Nanowelded Carbon Nanotubes
From Field-Effect Transistors to Solar Microcells2009Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-01498-7Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Oepen / Hopster Magnetic Microscopy of Nanostructures
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2005Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-07286-4Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XI
Scanning Probe Microscopy Techniques2009Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-85036-6Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XII
Characterization2009Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-85038-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Morita Roadmap of Scanning Probe Microscopy
2007Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-34314-1Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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