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Werkstoffkunde, Materialwissenschaft: Forschungsmethoden
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Saldin / Yurkov / Schneidmiller The Physics of Free Electron Lasers
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2000Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-08555-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Pietsch / Baumbach / Holy High-Resolution X-Ray Scattering
From Thin Films to Lateral Nanostructures2. Auflage 2004Verlag: SpringerISBN: 978-1-4419-2307-3Medium: Buch96,29 € (inkl. MwSt.)
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Hüfner Photoelectron Spectroscopy
Principles and Applications3rd revised and enlarged Auflage 2003Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-41802-3Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Hüfner Photoelectron Spectroscopy
Principles and Applications3rd revised and enlarged Auflage Softcover version of original hardcover Auflage 2003Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-07520-9Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
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Bennewitz / Meyer / Hug Scanning Probe Microscopy
The Lab on a Tip1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2004Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-07737-1Medium: Buch69,99 € (inkl. MwSt.)
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Pietsch / Holy / Baumbach High-Resolution X-Ray Scattering
From Thin Films to Lateral Nanostructures2. Auflage 2004Verlag: Springer-Verlag GmbHISBN: 978-0-387-40092-1Medium: Buch139,09 € (inkl. MwSt.)
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Choyke / Pensl / Matsunami Silicon Carbide
Recent Major Advances2004Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-40458-3Medium: Buch320,99 € (inkl. MwSt.)
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