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Materialwissenschaft: Verbundwerkstoffe
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Schüller Inelastic Light Scattering of Semiconductor Nanostructures
Fundamentals and Recent AdvancesErscheinungsjahr 2006Verlag: SpringerISBN: 978-3-540-36525-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Waseda Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization
Atomic-Scale Structure Determination1. Auflage 2002Verlag: SpringerISBN: 978-3-540-43443-6Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Schüller Inelastic Light Scattering of Semiconductor Nanostructures
Fundamentals and Recent Advances2006Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-43675-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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