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Elektronik | Nachrichtentechnik

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    Langouche / Yoshida | Defects and Impurities in Silicon Materials | Buch | Sack Fachmedien

    Langouche / Yoshida Defects and Impurities in Silicon Materials

    An Introduction to Atomic-Level Silicon Engineering
    1. Auflage 2015
    Verlag: Springer Japan
    ISBN: 978-4-431-55799-9
    Medium: Buch
    74,89 € (inkl. MwSt.)
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    Bharuth-Ram / Johnston / Langouche | HFI / NQI 2010 | Buch | Sack Fachmedien

    Bharuth-Ram / Johnston / Langouche HFI / NQI 2010

    Proceedings of the 3rd Joint International Conference on Hyperfine Interactions and International Symposium on Nuclear Quadrupole Interactions
    2011
    Verlag: Springer Netherlands
    ISBN: 978-94-007-1268-3
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Bharuth-Ram / Johnston / Langouche | HFI / NQI 2010 | Buch | Sack Fachmedien

    Bharuth-Ram / Johnston / Langouche HFI / NQI 2010

    Proceedings of the 3rd Joint International Conference on Hyperfine Interactions and International Symposium on Nuclear Quadrupole Interactions
    2011
    Verlag: Springer Netherlands
    ISBN: 978-94-017-8349-1
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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