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Halb- und Supraleitertechnologie
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Flandre / Hemment / Nazarov Science and Technology of Semiconductor-On-Insulator Structures and Devices Operating in a Harsh Environment
Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Science and Technology of Semiconductor-On-Insulator Structures and Devices Operating in a Harsh Environment, Kiev, Ukraine, 26-30 April 20042005Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-1-4020-3012-3Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Flandre / Hemment / Nazarov Science and Technology of Semiconductor-On-Insulator Structures and Devices Operating in a Harsh Environment
Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Science and Technology of Semiconductor-On-Insulator Structures and Devices Operating in a Harsh Environment, Kiev, Ukraine, 26-30 April 20042005Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-1-4020-3011-6Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Bianconi Symmetry and Heterogeneity in High Temperature Superconductors
2006. Auflage 2005Verlag: SpringerISBN: 978-1-4020-3987-4Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Bianconi Symmetry and Heterogeneity in High Temperature Superconductors
2006. Auflage 2005Verlag: SpringerISBN: 978-1-4020-3988-1Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Balestra / Lysenko / Nazarov Progress in SOI Structures and Devices Operating at Extreme Conditions
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2002Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-1-4020-0576-3Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Balestra / Nazarov / Lysenko Progress in Soi Structures and Devices Operating at Extreme Conditions
2002. Auflage 2002Verlag: SpringerISBN: 978-1-4020-0575-6Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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di Bartolo Spectroscopy of Systems with Spatially Confined Structures
2002Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-1-4020-1122-1Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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di Bartolo Spectroscopy of Systems with Spatially Confined Structures
2002Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-1-4020-1103-0Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Gusev Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks
Nano-Electronic Semiconductor Devices2006Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-1-4020-4365-9Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Gusev Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks
Nano-Electronic Semiconductor Devices2006Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-1-4020-4366-6Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Kotrla / Wille / Papanicolaou Atomistic Aspects of Epitaxial Growth
2002Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-1-4020-0674-6Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Kotrla / Wille / Papanicolaou Atomistic Aspects of Epitaxial Growth
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2002Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-1-4020-0675-3Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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