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Yu Resistive Random Access Memory (RRAM)
1. Auflage 2022Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-031-02030-8Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark28,88 € (inkl. MwSt.)
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Baranov / Levchenko / Xu Advanced Concepts and Architectures for Plasma-Enabled Material Processing
1. Auflage 2022Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-031-02035-3Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark56,70 € (inkl. MwSt.)
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Ashraf / Alam New Prospects of Integrating Low Substrate Temperatures with Scaling-Sustained Device Architectural Innovation
Erscheinungsjahr 2016Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-031-00899-3Medium: Buch29,95 € (inkl. MwSt.)
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Kurachi / Arai Radiation Imaging Detectors Using SOI Technology
Erscheinungsjahr 2017Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-031-00905-1Medium: Buch29,95 € (inkl. MwSt.)
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Cataldo / Cannazza / Benedetto Advances in Reflectometric Sensing for Industrial Applications
Erscheinungsjahr 2016Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-031-79496-4Medium: Buch35,30 € (inkl. MwSt.)
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Ashraf Low Substrate Temperature Modeling Outlook of Scaled n-MOSFET
Erscheinungsjahr 2018Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-031-00906-8Medium: Buch35,30 € (inkl. MwSt.)
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Yu / Ni / Wang Non-Volatile In-Memory Computing by Spintronics
1. Auflage 2022Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-031-02032-2Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark53,49 € (inkl. MwSt.)
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Liu / Huang / Li Compound Semiconductor Materials and Devices
1. Auflage 2022Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-031-02028-5Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark28,88 € (inkl. MwSt.)
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