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    Stafe / Marcu / Puscas | Pulsed Laser Ablation of Solids | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Stafe / Marcu / Puscas Pulsed Laser Ablation of Solids

    Basics, Theory and Applications
    2014
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-40978-3
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Wiesendanger / Güntherodt | Scanning Tunneling Microscopy II | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Wiesendanger / Güntherodt Scanning Tunneling Microscopy II

    Further Applications and Related Scanning Techniques
    2. Auflage 1995
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-79366-0
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
    53,49 € (inkl. MwSt.)
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    Grunze / Kreuzer / Weimer | Diffusion at Interfaces: Microscopic Concepts | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Grunze / Kreuzer / Weimer Diffusion at Interfaces: Microscopic Concepts

    Proceedings of a Workshop, Campobello Island, Canada, August 18–22, 1987
    1988
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-73632-2
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
    96,29 € (inkl. MwSt.)
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    Krug / Michely | Islands, Mounds and Atoms | Buch | Sack Fachmedien

    Krug / Michely Islands, Mounds and Atoms

    Erscheinungsjahr 2003
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-40728-7
    Medium: Buch
    171,19 € (inkl. MwSt.)
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    Glatzel / Sadewasser | Kelvin Probe Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Glatzel / Sadewasser Kelvin Probe Force Microscopy

    From Single Charge Detection to Device Characterization
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2018
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-030-09298-6
    Medium: Buch
    235,39 € (inkl. MwSt.)
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    Wendler / Wesch | Ion Beam Modification of Solids | Buch | Sack Fachmedien

    Wendler / Wesch Ion Beam Modification of Solids

    Ion-Solid Interaction and Radiation Damage
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2016
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-81547-3
    Medium: Buch
    246,09 € (inkl. MwSt.)
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    Ohlídal / Stenzel | Optical Characterization of Thin Solid Films | Buch | Sack Fachmedien

    Ohlídal / Stenzel Optical Characterization of Thin Solid Films

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2018
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-030-09200-9
    Medium: Buch
    181,89 € (inkl. MwSt.)
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    Nasirpouri | Electrodeposition of Nanostructured Materials | Buch | Sack Fachmedien

    Nasirpouri Electrodeposition of Nanostructured Materials

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2017
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-83162-6
    Medium: Buch
    128,39 € (inkl. MwSt.)
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    Haschke | Laboratory Micro-X-Ray Fluorescence Spectroscopy | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Haschke Laboratory Micro-X-Ray Fluorescence Spectroscopy

    Instrumentation and Applications
    2014
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-04864-2
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
    149,79 € (inkl. MwSt.)
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    Nasirpouri | Electrodeposition of Nanostructured Materials | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Nasirpouri Electrodeposition of Nanostructured Materials

    1. Auflage 2017
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-44920-3
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
    117,69 € (inkl. MwSt.)
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    Woicik | Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES) | Buch | Sack Fachmedien

    Woicik Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES)

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2016
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-79572-0
    Medium: Buch
    299,59 € (inkl. MwSt.)
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    Woicik | Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES) | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Woicik Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES)

    1. Auflage 2016
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-24043-5
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
    287,83 € (inkl. MwSt.)
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    Cusano / Ricciardi / Consales | Lab-on-Fiber Technology | Buch | Sack Fachmedien

    Cusano / Ricciardi / Consales Lab-on-Fiber Technology

    2015
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-06997-5
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Wesch / Wendler | Ion Beam Modification of Solids | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Wesch / Wendler Ion Beam Modification of Solids

    Ion-Solid Interaction and Radiation Damage
    1. Auflage 2016
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-33561-2
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
    234,33 € (inkl. MwSt.)
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    Nasirpouri | Electrodeposition of Nanostructured Materials | Buch | Sack Fachmedien

    Nasirpouri Electrodeposition of Nanostructured Materials

    1. Auflage 2017
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-44919-7
    Medium: Buch
    181,89 € (inkl. MwSt.)
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    Mönch | Electronic Properties of Semiconductor Interfaces | Buch | Sack Fachmedien

    Mönch Electronic Properties of Semiconductor Interfaces

    2004
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-20215-8
    Medium: Buch
    235,39 € (inkl. MwSt.)
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    Ohlídal / Stenzel | Optical Characterization of Thin Solid Films | Buch | Sack Fachmedien

    Ohlídal / Stenzel Optical Characterization of Thin Solid Films

    1. Auflage 2018
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-75324-9
    Medium: Buch
    181,89 € (inkl. MwSt.)
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    Stenzel | The Physics of Thin Film Optical Spectra | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Stenzel The Physics of Thin Film Optical Spectra

    An Introduction
    2. Auflage 2016
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-21602-7
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
    181,89 € (inkl. MwSt.)
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    Sadewasser / Glatzel | Kelvin Probe Force Microscopy | eBook | Sack Fachmedien
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    Sadewasser / Glatzel Kelvin Probe Force Microscopy

    From Single Charge Detection to Device Characterization
    1. Auflage 2018
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-75687-5
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
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    Stenzel | The Physics of Thin Film Optical Spectra | Buch | Sack Fachmedien

    Stenzel The Physics of Thin Film Optical Spectra

    An Introduction
    Third Auflage 2024
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-031-65029-1
    Medium: Buch
    85,59 € (inkl. MwSt.)
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    Yurin / Gerasimov | Kinetics of Evaporation | Buch | Sack Fachmedien

    Yurin / Gerasimov Kinetics of Evaporation

    1. Auflage 2018
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-96303-7
    Medium: Buch
    171,19 € (inkl. MwSt.)
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    Yurin / Gerasimov | Kinetics of Evaporation | Buch | Sack Fachmedien

    Yurin / Gerasimov Kinetics of Evaporation

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2018
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-030-07173-8
    Medium: Buch
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    Hartmann | Magnetic Multilayers and Giant Magnetoresistance | Buch | Sack Fachmedien

    Hartmann Magnetic Multilayers and Giant Magnetoresistance

    Fundamentals and Industrial Applications
    2000
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-65568-8
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Cusano / Consales / Crescitelli | Lab-on-Fiber Technology | eBook | Sack Fachmedien
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    Cusano / Consales / Crescitelli Lab-on-Fiber Technology

    2015
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-06998-2
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
    96,29 € (inkl. MwSt.)
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    Wang | Contact-Electrification of Matter | eBook | Sack Fachmedien
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    Wang Contact-Electrification of Matter

    1. Auflage 2025
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-031-88504-4
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
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