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Manzani / Rivera Technological Advances in Tellurite Glasses
Properties, Processing, and Applications1. Auflage 2017Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-53036-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Bernards / Malliaras / Owens Organic Semiconductors in Sensor Applications
2008Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-76313-0Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Lu / He Metal-Dielectric Interfaces in Gigascale Electronics
Thermal and Electrical StabilitySoftcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2012Verlag: SpringerISBN: 978-1-4939-4308-1Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Lu / He Metal-Dielectric Interfaces in Gigascale Electronics
Thermal and Electrical Stability2012Verlag: SpringerISBN: 978-1-4614-1811-5Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Weidner Deformation Processes in TRIP/TWIP Steels
In-Situ Characterization Techniques1. Auflage 2020Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-37149-4Medium: eBookFormat: PDF
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Weidner Deformation Processes in TRIP/TWIP Steels
In-Situ Characterization Techniques1. Auflage 2020Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-37148-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Weidner Deformation Processes in TRIP/TWIP Steels
In-Situ Characterization Techniques1. Auflage 2020Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-37151-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Ghatak / Bhattacharya Effective Electron Mass in Low-Dimensional Semiconductors
2013Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-43864-6Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Ghatak / Bhattacharya Effective Electron Mass in Low-Dimensional Semiconductors
2013Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-31247-2Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Bhattacharya / Ghatak Effective Electron Mass in Low-Dimensional Semiconductors
1. Auflage 2012Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-31248-9Medium: eBookFormat: PDF
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Spaeth / Overhof Point Defects in Semiconductors and Insulators
Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine InteractionsSoftcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2003Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-62722-4Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Spaeth / Overhof Point Defects in Semiconductors and Insulators
Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine InteractionsErscheinungsjahr 2013Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-55615-9Medium: eBookFormat: PDF
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A Perturbative, First-Principles-Based Approach2024Verlag: Springer Nature SwitzerlandISBN: 978-3-031-62020-1Medium: Buch139,09 € (inkl. MwSt.)
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Woodgate Modelling Atomic Arrangements in Multicomponent Alloys
A Perturbative, First-Principles-Based Approach1. Auflage 2024Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-031-62021-8Medium: eBookFormat: PDF
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Auroux Calorimetry and Thermal Methods in Catalysis
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2013Verlag: SpringerISBN: 978-3-662-51926-4Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Bichurin / Petrov Modeling of Magnetoelectric Effects in Composites
Softcover Nachdruck of the Original 1. 2014 Auflage 2016Verlag: SpringerISBN: 978-94-024-0347-3Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Bioinspired Hierarchical-Structured Surfaces for Green Science and TechnologyThird Auflage 2018Verlag: SpringerISBN: 978-3-319-71675-6Medium: Buch320,99 € (inkl. MwSt.)
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Mikla Metastable States in Amorphous Chalcogenide Semiconductors
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Fink Transport Processes in Ion-Irradiated Polymers
Erscheinungsjahr 2013Verlag: SpringerISBN: 978-3-662-10608-2Medium: eBookFormat: PDF
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Graff Metal Impurities in Silicon-Device Fabrication
Erscheinungsjahr 2013Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-97593-6Medium: eBookFormat: PDF
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1. Auflage 2011Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-73512-7Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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2. Auflage 2000Verlag: SpringerISBN: 978-3-540-64213-8Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Fink Transport Processes in Ion-Irradiated Polymers
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2004Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-05894-3Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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He / Lu Metal-Dielectric Interfaces in Gigascale Electronics
Thermal and Electrical Stability1. Auflage 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4614-1812-2Medium: eBookFormat: PDF
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