Ergebnisse filtern
- Fachgebiet
- Medium
-
- 2
- 1
- Erscheinungsjahr
-
- 3
- Autoren
-
- 1
- 1
- 2
- 2
- 1
- 1
- 2
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 2
- 2
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 2
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 4
- 1
- 3
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 3
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 2
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 3
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 2
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 4
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 2
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 3
- 1
- 1
- 1
- 2
- 2
- 2
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 2
- 2
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 2
- 2
- 1
- 1
- 2
- 1
- 2
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 2
- 1
- 2
- 4
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 2
- 1
- 2
- 2
- 1
- 2
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 2
- 2
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 3
- Verlag
-
- 2
- 1
- Preis
-
- 3
- Sprachen
-
- 3
- Verfügbarkeit
-
- 3
- Katalog
-
- 3
Artikel pro Seite:
Sortierung nach:
-
Dehm / Howe / Zweck In-situ Electron Microscopy
Applications in Physics, Chemistry and Materials Science1. Auflage 2012Verlag: WILEY-VCHISBN: 978-3-527-31973-2Medium: Buch169,00 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage169,00 € (inkl. MwSt.)
Lieferfrist: bis zu 10 Werktage -
Dehm / Howe / Zweck In-situ Electron Microscopy
Applications in Physics, Chemistry and Materials Science1. Auflage 2012Verlag: Wiley-VCHISBN: 978-3-527-65218-1Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)151,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar151,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Dehm / Howe / Zweck In-situ Electron Microscopy
Applications in Physics, Chemistry and Materials Science1. Auflage 2012Verlag: Wiley-VCHISBN: 978-3-527-65219-8Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)151,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar151,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
Artikel pro Seite:
Sortierung nach:
vorherige Seite
nächste Seite
Artikel pro Seite:
Sortierung nach:
Bitte ändern Sie das Passwort