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Tan / Tahoori / Kiamehr Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems
Modeling, Analysis and Optimization1. Auflage 2019Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-26174-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Tan / Tahoori / Kim Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems
Modeling, Analysis and Optimization1. Auflage 2019Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-26172-6Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Tan / Tahoori / Kiamehr Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems
Modeling, Analysis and Optimization1. Auflage 2019Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-26171-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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