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Tanner Introduction to the Physics of Electrons in Solids
Erscheinungsjahr 2003Verlag: Cambridge University PressISBN: 978-0-521-23941-7Medium: Buch177,90 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Tanner Introduction to the Physics of Electrons in Solids
Erscheinungsjahr 2003Verlag: Cambridge University PressISBN: 978-0-521-28358-8Medium: Buch84,10 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Bowen / Tanner High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
1. Auflage 2005Verlag: CRC PressISBN: 978-1-135-47860-5Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)92,49 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Bowen / Tanner High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Erscheinungsjahr 2005Verlag: CRC PressISBN: 978-0-203-97919-8Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)92,49 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Bowen / Tanner High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
1. Auflage 1998Verlag: CRC PressISBN: 978-0-85066-758-5Medium: Buch272,40 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Bowen / Tanner High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
1. Auflage 2019Verlag: CRC PressISBN: 978-0-367-40063-7Medium: Buch100,90 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Bowen / Tanner X-Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing
Erscheinungsjahr 2006Verlag: Taylor & FrancisISBN: 978-1-4200-0565-3Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)264,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Bowen / Tanner X-Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing
1. Auflage 2006Verlag: CRC PressISBN: 978-0-8493-3928-8Medium: Buch194,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen -
Bowen / Tanner X-Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing
1. Auflage 2018Verlag: Taylor & Francis eBooksISBN: 978-1-351-83792-7Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)264,99 € (inkl. MwSt.)
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Authier / Tanner / Lagomarsino X-Ray and Neutron Dynamical Diffraction
Theory and Applications1996Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-7696-5Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Authier / Lagomarsino / Tanner X-Ray and Neutron Dynamical Diffraction
Theory and ApplicationsErscheinungsjahr 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4615-5879-8Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark53,49 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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