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Tan Advanced Model Order Reduction Techniques in VLSI Design
Erscheinungsjahr 2007Verlag: Cambridge University PressISBN: 978-0-511-28709-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)43,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Tan / He Advanced Model Order Reduction Techniques in VLSI Design
Erscheinungsjahr 2016Verlag: Cambridge University PressISBN: 978-0-521-86581-4Medium: Buch148,40 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Tan / He Advanced Model Order Reduction Techniques in VLSI Design
Erscheinungsjahr 2012Verlag: Cambridge University PressISBN: 978-1-107-41154-8Medium: Buch61,70 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Shi / Tan / Tlelo Cuautle Advanced Symbolic Analysis for VLSI Systems
Methods and Applications1. Auflage 2014Verlag: Springer USISBN: 978-1-4939-1103-5Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Tan / Tahoori / Kiamehr Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems
Modeling, Analysis and Optimization1. Auflage 2019Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-26171-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Tan / Tahoori / Kim Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems
Modeling, Analysis and Optimization1. Auflage 2019Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-26172-6Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Tan / Tahoori / Kiamehr Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems
Modeling, Analysis and Optimization1. Auflage 2019Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-26174-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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