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Benninghoven / Evans / Powell Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II
Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27–31, 1979Erscheinungsjahr 2013Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-61871-0Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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