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Doneker / Rechenberg Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 19971. Auflage 1998Verlag: CRC PressISBN: 978-0-7503-0500-6Medium: Buch428,40 € (inkl. MwSt.)
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Ganten / Meyer-Galow / Ropers Gene, Neurone, Qubits & Co.
Unsere Welten der Information1. Auflage 1999Verlag: S. HirzelISBN: 978-3-7776-0970-6Medium: Buch37,00 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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