Ergebnisse filtern
-
- 2
- 2
-
- 2
- 1
- 1
-
- 1
- 1
- 2
-
- 1
- 3
-
- 3
- 1
-
- 4
-
- 4
-
Doneker / Rechenberg Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997Erscheinungsjahr 2017Verlag: Taylor & Francis eBooksISBN: 978-1-351-45646-3Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)399,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Doneker / Rechenberg Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 19971. Auflage 1998Verlag: CRC PressISBN: 978-0-7503-0500-6Medium: Buch431,30 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Doneker / Rechenberg Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997Erscheinungsjahr 2017Verlag: Taylor & Francis eBooksISBN: 978-1-351-45647-0Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)399,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Ganten / Meyer-Galow / Ropers Gene, Neurone, Qubits & Co.
Unsere Welten der Information1. Auflage 1999Verlag: S. HirzelISBN: 978-3-7776-0970-6Medium: Buch37,00 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
Ist Ihr gesuchter Titel nicht Teil der Ergebnisse? Dann nutzen Sie unser Kontaktformular
Bitte ändern Sie das Passwort