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Bäuerle Chemical Processing with Lasers
Erscheinungsjahr 2013Verlag: SpringerISBN: 978-3-662-02505-5Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark85,59 € (inkl. MwSt.)
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Spaeth / Overhof Point Defects in Semiconductors and Insulators
Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions2003Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-42695-0Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Cerofolini / Meda Physical Chemistry of, in and on Silicon
Erscheinungsjahr 2012Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-73504-2Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark53,49 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Spaeth / Overhof Point Defects in Semiconductors and Insulators
Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine InteractionsErscheinungsjahr 2013Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-55615-9Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark213,99 € (inkl. MwSt.)
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Spaeth / Overhof Point Defects in Semiconductors and Insulators
Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine InteractionsSoftcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2003Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-62722-4Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Cerofolini / Meda Physical Chemistry of, in and on Silicon
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 1989Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-73506-6Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Marek / Trah / Suzuki Sensors for Automotive Technology
Sensors Applications Vol. 41. Auflage 2006Verlag: Wiley-VCHISBN: 978-3-527-60507-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)178,99 € (inkl. MwSt.)
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