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Bosio / Dilillo / Girard Advanced Test Methods for SRAMs
Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies1. Auflage 2009Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-0938-1Medium: eBookFormat: PDF
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Bosio / Dilillo / Girard Advanced Test Methods for Srams
Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies2010. Auflage 2009Verlag: Springer UsISBN: 978-1-4419-0937-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Bosio / Dilillo / Virazel Advanced Test Methods for SRAMs
Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies2010Verlag: Springer USISBN: 978-1-4899-8314-5Medium: Buch109,99 € (inkl. MwSt.)
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