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    Benninghoven / Evans / Powell | Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Benninghoven / Evans / Powell Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II

    Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27–31, 1979
    Erscheinungsjahr 2013
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-61871-0
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
    96,29 € (inkl. MwSt.)
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    Benninghoven / Evans / Storms | Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II | Buch | Sack Fachmedien

    Benninghoven / Evans / Storms Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II

    Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27-31, 1979
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 1979
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-61873-4
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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